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LED壽命/可靠性加速試驗系統

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LED壽命/可靠性加速試驗系統

LED壽命/可靠性加速試驗系統
英文名稱:IES LM-80-08 IESNA Approved Method for Lumen Maintenance Testing of LED Light Sources
產品編號:LATS-40
產品簡介:
IES LM-80-08 LED光源光通量衰減測量方法
產品內容

概述:
本標準是IESNA繼LM-79-08後公佈的第二個SSL產品的測試標準,通過對光源光通量衰減方式的定義,對LED預期壽命進行評估。

標準中要求:

  • 輸入電壓和頻率應符合驅動器的要求
  • 電流:壽命試驗中監測電流精度:±3% ; 測量光度性能時±0.5%。 
  • 基座溫度:光度測量應在在25℃、55℃、85℃±2℃三個基座溫度下。
    壽命測量中要求一直監測基座溫度Ts
  • 額定光通量維持壽命(Lp): 
    LED 光源維持它的光通量為初始光輸出的p百分數,如L70(小時):到70%的光通量維持。

該測試系統完全滿足能源之星最新測量標準IESNA LM-80-2008的要求,可對LED封裝產品、陣列和模組等在多種不同的溫度應力條件下,即時監控測量LED樣品的光色參數、電參數及基座溫度等,實現光通量維持試驗。

  • 三個試驗箱可滿足0~200℃(±0.5℃)下任意溫度應力測試。
  • 輸出電壓範圍:0.0-15.0V;測試精度:1%;
  • 輸出電流範圍:1.0mA-2.00A;測試精度:0.5%;
  • 光譜範圍:380nm~1000nm;
  • 多路高溫光纖;
  • 多路光學巡檢測試儀;
  • 多路溫度巡檢測試儀;
  • 多路光學探測器;
  • 多路程式控制電源。

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