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光學實驗機械光學實驗元件反射器檢測系統

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F-P掃描干涉儀

F-P掃描干涉儀
英文名稱:F-P scanning interferometer
產品編號:
產品簡介:
F-P掃描干涉儀
產品內容
一種高解析度的光譜分析儀器,主要用於雷射縱模的觀察。
三色光電有限公司 配光曲線儀 積分球 專業買賣諮詢
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